E DIN EN 61340-4-8 (VDE 0300-4-8):2011-06

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Elektrostatik -

Teil 4-8: Standard-Prüfverfahren für spezielle Anwendungen - Schirmwirkung gegen elektrostatische Entladung - Beutel (IEC 101/330/CD:2011)

Kurzdarstellung

Diese Norm beschreibt ein allgemeines reproduzierbares Verfahren zum Prüfen und Bestimmen der Schirmungseigenschaften von Abschirmbeuteln gegen elektrostatische Entladungen. Die Nennspannung der Prüfeinrichtung beträgt 1 000 V. Dieses Prüfverfahren stellt durch den Verzicht auf die Verwendung von zwei Spannungs-Messzangen und die Verwendung einer einzigen Strom-Messzange für Messzwecke eine bedeutende Änderung dar. Dies wurde gemacht, um die Probleme zu beseitigen, die beim Versuch, die Spannungs-Messzangen abzugleichen, auftreten, was zu Messfehlern führte.
Zuständig ist das K 185 "Elektrostatik" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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11.03.2011 Historisch

101/330/CD:2011-03

Entwurf war:

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01.12.2008 Historisch

E DIN IEC 61340-4-8 (VDE 0300-4-8):2008-12

Elektrostatik - Teil 4-8: Standard-Prüfverfahren für spezielle Anwendungen - Schirmwirkung gegen elektrostatische Entladung - Beutel (IEC 101/269/CDV:2008)